SINTESIS DAN KARAKTERISASI ORGANOCLAY SEBAGAI PENGUAT MATERIAL NANOKOMPOSIT BERBASIS LEMPUNG LOKAL
(1) Pusat Teknologi Material (PTM) - BPPT Gedung BPPT 2, Lantai 22, Jl.M.H. Thamrin No.8, Jakarta 10340
(2) Pusat Teknologi Material (PTM) - BPPT Gedung BPPT 2, Lantai 22, Jl.M.H. Thamrin No.8, Jakarta 10340
Corresponding Author
Abstract
SINTESIS DAN KARAKTERISASI ORGANOCLAY SEBAGAI PENGUAT MATERIAL NANOKOMPOSIT BERBASIS LEMPUNG LOKAL. Riset pengembangan silika nanokomposit merupakan suatu awal dari tahapan menuju penguasaan nanoteknologi dalam rangka upaya meningkatkan daya saing produk lokal. Organoclay hasil sintesis dari bahan lempung montmorillonit alam Indonesia digunakan sebagai bahan dasar penyusun pembuatan material nanokomposit polimer yang akan diaplikasikan sebagai material komponen otomotif. Dalam penelitian ini telah dilakukan proses pembuatan organoclay dengan aktivasi asam menggunakan HCl dengan konsentrasi dan variasi waktu aktivasi tertentu yang kemudian ditambahkan surfaktan terpilih. Karakteristik morfologi organoclay hasil sintesis didapat dengan melakukan pengujian XRD, FT-IR, TGA dan dibandingkan karakteristiknya dengan organoclay bentone SD-1. Analisis terhadap spektrum FT-IR menunjukkan organoclay hasil sintesis maupun bentone SD-1 memiliki kemiripan yang tinggi untuk senyawa organik yang digunakan. Analisis terhadap Difraktometer XRD untuk organoclay hasil sintesis menunjukkan karakteristik instensitas serapan yang berbeda dengan clay alam dan terjadi peningkatan jarak antar lapis akibat interkalasi molekul organik yaitu dari semula 15,03 Å pada clay alam, akibat masuknya surfaktan pada antar lapis clay maka jarak antar lapisnya menjadi 39,18 Å untuk organoclay alam hasil sintesis. Dari analisis termogravimetri dapat disimpulkan organoclay hasil sintesis mulai mengalami kehilangan massa dalam jumlah yang cukup signifikan pada suhu 180 oC yang puncaknya pada suhu sekitar 220 oC. Total massa yang hilang pada proses tersebut hingga mencapai sekitar 30 %berat.
Keywords
Organoclay, Nanokomposit, Bentone SD-1, Spektrum FT-IR, Difraktogram XRD, Termogravimetri
DOI: 10.17146/jusami.2007.9.1.5077