ANALISIS STRUKTUR SELULOSA KULIT ROTAN SEBAGAI FILLER BIONANO KOMPOSIT DENGAN DIFRAKSI SINAR-X
(1) Departemen Teknik Mesin dan Biosistem, FTP-IPB Jl. Kampus IPB Darmaga, Bogor (G Wing S) 16680
(2) Pusat Teknologi Bahan Industri Nuklir (PTBIN)-BATAN Kawasan Puspiptek, Serpong 15314, Tangerang
(3) Departemen Fisika, FMIPA - IPB Jl. Kampus IPB Darmaga, Bogor (G Wing S) 16680
Corresponding Author
Abstract
ANALISIS STRUKTUR SELULOSA KULIT ROTAN SEBAGAI FILLER BIONANO KOMPOSIT DENGAN DIFRAKSI SINAR-X. Kulit rotan merupakan salah satu limbah pertanian yang dapat dimanfaatkan sebagai sumber serat untuk bionano komposit. Untuk menghasilkan bionanokomposit berbasis nanopartikel selulosa kulit rotan yang ringan, kuat, ulet, ramah lingkungan dan eksplorasi sumber daya alam dalam negeri diperlukan pengembangan metode baru sebagai solusi teknik yang mengedepankan kemampuan sistem yaitu nanoteknologi. Tujuan penelitian ini adalah analisis struktur kristal menggunakan X-Ray Diffraction (XRD) dan ukuran partikel dengan Particle Size Analyzer (PSA) nanopartikel selulosa kulit rotan (SKR) hasil ultrasonikasi yang akan digunakan sebagai filler pada bionanokomposit menggunakan injection moulding. SKR dibuat dengan sistem mekanik (pen disk milling dan elektromagnetik shaker) dalam ukuran 75 μm, dipanaskan 100 oC dan stirer 200 rpm selama 2 jam, dilanjutkan ultrasonikasi pada 20 kHz, dengan variasi waktu 1 jam, 2 jamdan 3 jam. Hasil pengujian PSA menunjukkan ukuran partikel diameter 146,3 nm(number distribution 32%) untuk waktu ultrasonikasi 3 jam. Sementara itu analisis struktur kristal menunjukkan bahwa SKR berstruktur kristal monoklinik berfasa -selulosa. Apparent Crystal Size (ACS) dan micro strain (η) nanopartikel SKR adalah ACS = 151,95 dan η = 0,0001. Pemberian nanopartikel SKR pada matriks polipropilen (PP) menggunakan injection mouding menghasilkan sifat mekanik (impact dan hardness) bionanokomposit lebih baik dari pembandingnya yaitu komposit sintetik berfiber glass.
Keywords
Selulosa, Ultrasonik, Bionanokomposit, Particle Size Analyzer, X-Ray Diffraction
DOI: 10.17146/jsmi.2012.13.2.4712