APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT

Eriawan Rismana, Hadi Nur, Salasiah Endud

DOI: http://dx.doi.org/10.17146/jsmi.2012.13.2.4713

Abstract


APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT. Karakterisasi nanopartikel Kadmium Sulfida (CdS) pada nanokomposit CdS/Polimer dan stabilitas pola difraktogramstruktur mesopori dariAl-MCM-41 pada nanokomposit CdS/APTMS-Al-MCM-41 telah dilakukan denganmenggunakan teknik difraksi sinar-X. Polimer yang digunakan adalah poli(steren-divinilbenzen) tersulfonasi [SO3H-P(S-DVB)]. Keberadaan nano partikel CdS dalam CdS/SO3H-P(S-DVB) ditunjukkan oleh adanya puncak lebar pada difraktogram di posisi 2θ = 26,40° ; 43,75° dan 52,00° yang sesuai dengan pola difraktogram CdS nano bentuk kubik (111), (220) dan (311). Sedangkan stabilitas pola difraktogramdari CdS/APTMS-Al-MCM-41 ditunjukkan oleh adanya puncak tajam pada difraktogram di posisi 2θ = 2,1° (100) dan 3 puncak lemah di 2θ = 3,7° (110), 4,3° (200) dan 5,5° (210) yang menunjukkan pola difraktogram Al-MCM-41 sebagai matriks host dari CdS/APTMS-Al-MCM-41.

Keywords


Difraksi sinar-X, CdS/Polimer, CdS/APTMS-Al-MCM-41

Refbacks

  • There are currently no refbacks.


Copyright (c) 2018 Jurnal Sains Materi Indonesia

Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International License.


Center for Science & Technology of Advanced Materials - National Nuclear Energy Agency of Indonesia
Phone : +62 21-758 74261, +62 21-756 2860 ext. 4009-4010, Fax.: +62 21-756 0926, e-mail: jusami@batan.go.id



preview previewpreviewpreviewpreviewpreviewpreviewpreviewpreview previewpreview

View My Stats
Creative Commons LicenseCopyright © 2019 Jusami | Indonesian Journal of Materials Science. This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International License (CC BY-NC-SA 4.0).