APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT

Eriawan Rismana; Hadi Nur; Salasiah Endud

doi:10.17146/jsmi.2012.13.2.4713

APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT

Eriawan Rismana⁽¹⁾, Hadi Nur⁽²⁾, Salasiah Endud⁽³⁾,

(1) Pusat Teknologi Farmasi dan Medika (PTFM)-BPPT Jl. M.H. Thamrin No. 8, Jakarta 10340, Indonesia
(2) Institut Ibnu Sina-Universiti Teknologi Malaysia Malaysia
(3) Jurusan Kimia-Universiti Teknologi Malaysia Jl. Semarak, 81310 UTM Skudai, Johor Darul Takzim, Kuala Lumpur, Malaysia

Corresponding Author

Abstract

APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT. Karakterisasi nanopartikel Kadmium Sulfida (CdS) pada nanokomposit CdS/Polimer dan stabilitas pola difraktogramstruktur mesopori dariAl-MCM-41 pada nanokomposit CdS/APTMS-Al-MCM-41 telah dilakukan denganmenggunakan teknik difraksi sinar-X. Polimer yang digunakan adalah poli(steren-divinilbenzen) tersulfonasi [SO3H-P(S-DVB)]. Keberadaan nano partikel CdS dalam CdS/SO3H-P(S-DVB) ditunjukkan oleh adanya puncak lebar pada difraktogram di posisi 2θ = 26,40° ; 43,75° dan 52,00° yang sesuai dengan pola difraktogram CdS nano bentuk kubik (111), (220) dan (311). Sedangkan stabilitas pola difraktogramdari CdS/APTMS-Al-MCM-41 ditunjukkan oleh adanya puncak tajam pada difraktogram di posisi 2θ = 2,1° (100) dan 3 puncak lemah di 2θ = 3,7° (110), 4,3° (200) dan 5,5° (210) yang menunjukkan pola difraktogram Al-MCM-41 sebagai matriks host dari CdS/APTMS-Al-MCM-41.