KARAKTERISASI STRUKTUR DAN SIFAT LISTRIK FILM TIPIS ZINC OXIDE DIDOPING GALLIUM DAN ALUMINIUM

Didik Aryanto, Sugianto Sugianto, Putut Marwoto, Sulhadi Sulhadi

DOI: http://dx.doi.org/10.17146/jsmi.2014.15.3.4346

Abstract


KARAKTERISASI STRUKTUR DAN SIFAT LISTRIK FILM TIPIS ZINC OXIDE DIDOPING GALLIUM DAN ALUMINIUM. Film tipis Zinc Oxide (ZnO) yang didoping unsur Gallium (Ga) dan Aluminium (Al) telah ditumbuhkan di atas gelas corning menggunakan DC Magnetron Sputtering. Efek dari doping Ga dan Al pada struktur dan sifat listrik film tipis ZnO telah dipelajari menggunakan X-Ray Diffractometer (XRD) dan I-Vmeter. Karakterisasi XRD menunjukkan bahwa film tipis ZnO murni dan ZnO yang telah didoping memiliki struktur polikristal dengan tipe heksagonal wurtzite. Kualitas dari film tipis ZnO meningkat dengan didoping unsur Ga, tetapi menurun ketika didoping unsur Al. Resistivitas dari film tipis ZnO berkurang ketika didoping dengan unsur Ga dan bertambah saat didoping unsurAl. Resistivitas terendah ditunjukkan film tipis ZnO yang didoping Ga (1%) sebesar 0,209 x 107Ωcm.

Keywords


Film Tipis, ZnO, XRD, Resistivitas

Refbacks

  • There are currently no refbacks.


Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International License.


Center for Science & Technology of Advanced Materials - National Nuclear Energy Agency of Indonesia
Phone : +62 21-758 74261, +62 21-756 2860 ext. 4009-4010, Fax.: +62 21-756 0926, e-mail: jusami@batan.go.id



preview previewpreviewpreviewpreviewpreviewpreviewpreviewpreview previewpreview

View My Stats
Creative Commons LicenseCopyright © 2019 Jusami | Indonesian Journal of Materials Science. This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International License (CC BY-NC-SA 4.0).